Overview of Microscopy Techniques
Atomic Force Microscopy
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Updated: Jun 26, 2025

Sample Drift Correction Following 4D Confocal Time-lapse Imaging
Published on: April 12, 2014
M Le Ster1, S Pawłowski1, I Lutsyk1
1University of Lodz, Faculty of Physics and Applied Informatics, Department of Solid-State Physics, Pomorska 149/153, Lodz, 90-236, Poland.
这项研究引入了一种新的方法来纠正扫描探针显微镜 (SPM) 中漂移引起的图像扭曲. 该技术使用格子参数来提高原子分辨率的SPM图像的准确性.
科学领域:
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研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: