线

Catarina Olimpio1,2, Ida Paramonov3, Leslie Matalonga3

  • 1Department of Clinical Neurosciences, John Van Geest Centre for Brain Repair, University of Cambridge, Cambridge, UK.

概括

重新分析现有的全外因子测序 (WES) 数据显著提高了线粒体疾病的遗传诊断率. 这种方法在没有新的测序的情况下,在以前未被诊断的患者中发现了新的遗传原因.