高性能硬式X射线成像探测器使用面部依赖的比斯瓦纳数据

Zhenghui Fan1, Lin Lei2, Shujie Tie1

  • 1Sichuan Research Center of New Materials, Institute of Chemical Materials, China Academy of Engineering Physics, Chengdu, 610200, China.

概括

研究人员通过优化晶体面来增强木瓦纳酸盐 (BiVO4) 的X射线探测器. 这改善了电荷传输,导致记录灵敏度和硬X射线成像的低检测极限.