扫描光谱成像的可行性研究 基于双断层平板的扫描光谱成像
1The Applied Physics/Electro-Optics Engineering Department, The Jerusalem College of Technology, Jerusalem 91106, Israel.
Sensors (Basel, Switzerland)
|May 25, 2024
概括
这项研究探讨了一种使用扫描干扰度的新型高光谱成像 (HSI) 系统概念. 该方法将标准单色相机转换为带有双断层板的HSI设备,提供了更简单,更有效的方法.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 频谱学是一种光谱学.
- 图像处理 图像处理
背景情况:
- 超光谱成像 (HSI) 系统通常使用分散或干涉度方法来进行波长分离.
- 与基于分散的方法相比,干扰度HSI系统在信号噪声比率和集成时间方面具有优势.
- 现有的HSI系统通常涉及复杂的光学组件和信号处理.
研究的目的:
- 研究基于扫描干扰测量的新型HSI系统概念的可行性.
- 探索用于光谱信息提取的扫描光学系统中的简单双断层板的使用.
- 展示一种成本效益高的方法,将单色相机转换为高光谱成像仪.
主要方法:
- 这项研究采用了一种"推扫"扫描干扰测量方法.
- 一个双折板被集成到扫描光学系统中,以诱导光谱依赖的光路差异.
- 通过使用富里埃变换 (FT) 分析曲的共弦形干扰图来提取光谱信息.
主要成果:
- 拟议的系统成功地通过利用安装平台的运动来提取光谱信息.
- 在双断层板中的角度和光路径差异之间的非线性关系产生了每波长的独特干涉图.
- 该算法有效地将干扰图信号转换为通过FT的光谱检索.
结论:
- 开发的概念提供了一个简化且可能更具成本效益的HSI系统.
- 这种方法可以将标准单色相机转化为高光谱成像设备.
- 该方法利用扫描干扰度原理与基本光学设置进行高效的光谱分析.
