T1w/T2w比率图可以识别患有自闭症谱系障碍的儿童,以及与髓相关的变化和症状之间的关系
Shujun Zhang1, Liping Jiang2, Zhe Hu1
1Department of Radiology, Affiliated Hospital of Jining Medical University, Jining 272000, Shandong Province, China.
概括
自闭症谱系障碍 (ASD) 与儿童皮质髓化减少有关. 这些髓化缺陷与症状严重程度相关,并显示出潜在的ASD诊断生物标志物.
科学领域:
- 神经科学是一个神经科学.
- 发育神经科学的发展神经科学.
- 神经成像是一种神经成像.
背景情况:
- 自闭症症状与大脑异常有关,但潜在的微观结构变化尚不清楚.
- 了解大脑微观结构对于解决自闭症谱系障碍 (ASD) 中的神经生物学和行为缺陷至关重要.
研究的目的:
- 调查自闭症谱系障碍 (ASD) 儿童的皮质内髓化模式.
- 探索髓化缺陷,自闭症症状和灰质体积之间的关联.
- 评估骨髓化异常对ASD的诊断效用.
主要方法:
- 构建皮质T1加权/T2加权比率图来表征髓化.
- 在150名患有自闭症儿童和139名典型发育儿童 (TD) 之间进行了骨髓化对比.
- 使用卷积神经网络 (CNN) 进行诊断疗效评估.
主要成果:
- 自闭症组显示皮质髓化广泛减少,特别是在默认模式,突出性和执行控制网络中.
- 较大的髓化缺陷与更严重的自闭症症状相关.
- 在ASD中,在特定的大脑区域与灰质体积增加时观察到髓化减少;CNN证明了高的诊断准确性.
结论:
- 微结构性髓化异常与自闭症症状有关.
- 这些发现表明髓化缺陷是ASD的潜在治疗标和诊断生物标志物.
