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Optics letters
|June 2, 2024
PubMed
概括

这项研究引入了用于结构化照明显微镜 (SIM) 的全介电超晶格元表面,提高了高达5.7倍的分辨率. 这种新的超表面克服了文物,为小型化应用程序提供了无文物,高对比度的成像.