使CHB-MIT,

Yoon Gi Chung1, Anna Cho1, Hunmin Kim1,2

  • 1Department of Pediatrics, Seoul National University Bundang Hospital, Seoul National University College of Medicine, Seongnam-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea.

PubMed
概括

一种新的深度学习方法使用单一的脑电图 (EEG) 通道来准确检测耐性患者的发作. 这种针对患者的方法显示了可穿戴的长期监测的潜力,改善了管理.