在3D结构中绘制离子度的地图,通过开发X射线康普顿散射计算机断层扫描的现场相关成像

Chu Lun Alex Leung1, Matthew D Wilson2, Thomas Connolley3

  • 1Department of Mechanical Engineering, University College London, London WC1E 7JE, United Kingdom.

概括

射线康普顿散射计算机断层扫描 (XCS-CT) 能够对材料中的光元素进行3D成像. 这项技术揭示了可充电电池内的化学成分变化,进步了材料科学.