在圆形的镜子外上检测软X射线波面
Christoph Braig1, Jürgen Probst2, Heike Löchel2
1Institute of Applied Photonics e.V., Rudower Chaussee 29/31, 12489 Berlin, Germany.
Journal of synchrotron radiation
|June 6, 2024
概括
一种新的现场方法使用X射线波面传感来描述光学元件. 这种技术准确地测量波面误差,以改善X射线镜面对齐和校正器设计.
科学领域:
- 光学和X射线科学 视觉和X射线科学
- 计量学和仪器仪表技术
背景情况:
- 在柔软的X射线领域描述旋转对称的光学元件需要可靠的现场方法.
- 精确的波纹传感对于高分辨率的X射线科学应用至关重要.
研究的目的:
- 开发和报告一项用于软X射线光学的新型现场波浪前线传感技术.
- 为了能够精确地描述像圆形镜子外这样的光学元素.
- 为了促进X射线镜子的改进对齐和波面校正器的设计.
主要方法:
- 用微型,电子激发的光源 (碳Kα) 对镜像样本进行辐射.
- 使用CCD摄像机在焦点附近的两个位置记录3D强度分布.
- 实现基于强度传输方程的射线追踪代码,从强度梯度中检索相位.
主要成果:
- 用RMS获得的波面错误图. 的值为 ±10.9λ0 ,峰值到谷值为 ±31.3λ0.0 .
- 重建的焦点直径为38.4μm,与实验观测 (39.4μm FWHM) 密切匹配.
- 圆形图形和斜率误差的表征为±1.14μm和±8.8弧秒 (r.m.s. ),分别是 () 和 ().
结论:
- 在现场开发的方法在软X射线领域提供了可靠的波面传感.
- 该技术能够准确地描述光学元件的误差和焦点属性.
- 这些发现支持精确对准X射线镜子,并为先进的X射线科学设计波面校正器.
更多相关视频
07:55High-speed Continuous-wave Stimulated Brillouin Scattering Spectrometer for Material Analysis
Published on: September 22, 2017
10.2K
14:09High-Throughput Total Internal Reflection Fluorescence and Direct Stochastic Optical Reconstruction Microscopy Using a Photonic Chip
Published on: November 16, 2019
6.9K
