MISD-IR:,

Junru Ren1, Yizhong Wang1, Ailong Cai1

  • 1Henan Key Laboratory of Imaging and Intelligent Processing, PLA Strategic Support Force Information Engineering University, Zhengzhou, China.

概括

这项研究引入了一种用于双能计算断层扫描 (DECT) 的新方法,该方法可以准确地量化材料,而不需要预先知道的光谱. 基于材料图像子空间分解的代重建 (MISD-IR) 方法提高了图像质量,加快了融合.