在小麦中对耐久性和宽谱条纹抗基因Yr30的高密度映射
Xiaoting Wang1, Mingjie Xiang1, Huaizhou Li1
1State Key Laboratory of Crop Stress Biology for Arid Areas, College of Agronomy, Northwest A&F University, Yangling, 712100, Shaanxi, People's Republic of China.
概括
研究人员将耐久条纹抗基因Yr30精细映射到610kb区域,确定了五个候选基因. 这种持久的基因提供了广泛的耐药性,并提高了小麦的谷物产量,为基于地图的克隆铺平了道路.
科学领域:
- 植物遗传学 植物遗传学
- 农作物科学 农作物科学
- 分子生物学分子生物学
背景情况:
- 新兴的侵略性小麦条纹生 (Puccinia striiformis f. sp. 传统的种族需要持久的抗性基因.
- 成人植物耐药性 (APR) 基因,如Yr30,提供广泛且持久的抗小麦条纹的有效性.
研究的目的:
- 为了精确地绘制 Yr30 位点,在小麦中实现持久的条纹抗性.
- 为了在 Yr30 的精细映射区域内识别候选基因.
主要方法:
- 使用重组杂交系种群 (1629个人) 对 Yr30 位点进行精细映射.
- 重序和RNA-seq分析以确定染色体3BS. 610kb区域内的候选基因.
- 使用660K基因型阵列对1215个小麦加入中的目标区域的哈普洛型分析.
主要成果:
- Yr30位点被精确地映射到0.52cM间隔,相当于一个610kb区域,包含30个高可信度基因.
- 根据表达,序列多态和功能注释,确定了五个候选基因.
- 哈普洛型分析揭示了六种哈普洛型,其中YR30_h6显示了增强的条纹抗性.
- 携带Yr30的近同位素线 (NIL) 在疾病压力下,谷物产量增加了32.94%.
结论:
- 对Yr30的精细映射为其基于地图的克隆提供了基础.
- Yr30基因对持久的条纹抗性有显著的贡献,并改善小麦谷物产量.
- 了解Yr30的遗传基础对于开发耐药小麦品种至关重要.
