定位隐藏的间接性发性放电,同时进行大脑内和头皮高密度EEG记录
Flavia Maria Zauli1, Maria Del Vecchio2, Andrea Pigorini3
1Department of Philosophy "P. Martinetti", Università degli Studi di Milano, Milan, Italy; Department of Biomedical and Clinical Sciences "L. Sacco", Università degli Studi di Milano, Milan, Italy; ASST GOM Niguarda, Piazza dell'Ospedale Maggiore 3, Milan, Italy.
Journal of neuroscience methods
|June 13, 2024
概括
同时的头皮和内EEG记录可以揭示表面上看不见的源. 电源成像精确地确定了这些发性区域,有助于的诊断和治疗.
科学领域:
- 神经科学是一个神经科学.
- 医疗成像医学成像
- 发病学 (Epileptology) 是一个专业的学科.
背景情况:
- 头皮脑电图 (EEG) 对的评估至关重要.
- 内间接性发性排放 (IED) 有时无法通过头皮EEG检测到.
- 精确地定位发性区域仍然是一个挑战.
研究的目的:
- 研究使用头皮EEG检测和定位内装备的可行性.
- 评估电源成像 (ESI) 的准确性,以重建IED起源.
- 为方法评估提供标准化的数据集.
主要方法:
- 在8名患者中同时记录了高密度EEG (HD-EEG) 和立体电脑图 (SEEG).
- 在SEEG中识别的IED被分析为时间锁定的EEG信号.
- 使用了唤起的潜力,地形分析和ESI.
主要成果:
- 在单个试验中,平均EEG信号揭示了在单个试验中看不见的IED.
- 与SEEG电极位置相关的地形电压分布.
- 据ESI重建,IED的起源是大约2厘米的准确度.
结论:
- 同时的HD-EEG和SEEG可以揭示隐藏的IED.
- 地形和ESI分析帮助重建IED起源.
- 方法和参数选择影响重建的准确性.
