热电子的纳米级热成像通过冷的太赫兹扫描噪声显微镜

Qianchun Weng1,2, Weijie Deng3,4, Susumu Komiyama1,5

  • 1Surface and Interface Science Laboratory, RIKEN, Wako, Saitama 351-0198, Japan.

概括

我们开发了一种用于纳米级热成像的冷扫描噪声显微镜 (Cryo-SNoiM). 这种工具可以在低温下精确检测热电子温度,从而推进材料科学研究.