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Updated: Jun 23, 2025

Test Samples for Optimizing STORM Super-Resolution Microscopy
Published on: September 6, 2013
Daehee Kim1,2, Sungmin Lee3, Junghyeon Seo2
1NAVER Cloud Corp., Seongnam 13529, Republic of Korea.
将超分辨率 (SR) 与物体检测 (OD) 结合起来,可显著提高性能,特别是在低质量图像中的小物体. 高SR模型质量与更好的OD结果直接相关,小物体的检测率提高了9.4%.
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