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Zeying Wang1, Jiaqing Li1, Yixuan Sun2

  • 1School of Mechanical Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China.

PubMed
概括

本研究引入了电阻断层扫描 (EIT) 的分层融合框架,以准确地重建多导率分布. 这种新的方法显著提高了医学成像中的异常检测和定位.