窄线宽激光器的线宽测量:原理,方法和系统
Jia-Qi Chen1,2, Chao Chen1,3, Jing-Jing Sun1,2
1State Key Laboratory of Luminescence Science and Technology, Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China.
Sensors (Basel, Switzerland)
|June 19, 2024
概括
精确的激光线宽测量对于先进技术至关重要. 这项研究分析了现有的方法,并引入了一种新型的短延迟自异质技术,以提高相位噪声减小和测量精度.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 激光物理 激光物理
- 计量学 计量学 计量学
背景情况:
- 窄线宽激光器对于卫星通信,精密测量和高速光学网络至关重要.
- 这些领域的技术进步在很大程度上依赖于精确的激光线宽测量技术.
- 现有的方法往往涉及复杂的设置,包括长光纤和显著的相位噪声动.
研究的目的:
- 为线宽表征方法提供理论分析.
- 审查现有的测量技术及其局限性.
- 引入并详细阐述一种新型的短延迟自异极式方法,以改善相位降噪.
主要方法:
- 节拍频率功率频谱和激光相位噪声计算的理论分析.
- 审查和评估现有的激光线宽测量技术.
- 深入讨论使用连贯包膜光谱解调的短延迟自我异质法.
主要成果:
- 分析各种激光器的性能参数和测试条件以及表征方法.
- 识别不同技术中的测量精度和错误来源.
- 演示了短延迟自异极方法的潜力,以减少来自1/f噪声的相位动.
结论:
- 精确的激光线宽测量对于推进关键技术至关重要.
- 短延迟的自我异质法为克服现有技术的局限性提供了一个有希望的解决方案.
- 进一步研究和应用这种方法可以提高激光的性能和可靠性.
