快速准确的EEG/MEG基于BEM的高分辨率头部模型前向问题解决方法

William A Wartman1, Guillermo Nuñez Ponasso1, Zhen Qi1

  • 1Dept. of Electrical and Computer Engineering, Worcester Polytechnic Institute, Worcester, MA, USA.

概括

一种新的边界元素方法 (BEM) 方法迅速解决了电脑学 (EEG) 和磁脑学 (MEG) 的前问题. 这种方法在标准硬件上在大约一分钟内实现了详细的头部模型的高精度.

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