在SiC元表面中对强度合的Phonon极子进行光谱和介面总频成像

Richarda Niemann1, Niclas S Mueller1, Sören Wasserroth1

  • 1Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Faradayweg 4-6, 14195, Berlin, Germany.

概括

一种新的光谱显微镜技术能够对声极子进行详细的成像,揭示它们的杂交,合和超材料中独特的边缘状态形成,用于先进的红外光控制.

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