X线

Silja Flenner1, Adam Kubec2, Christian David2

  • 1Helmholtz-Zentrum Hereon, Max-Planck-Straße 1, 21502 Geesthacht, Germany.

概括

这项研究引入了用于高分辨率成像的双束纳米图谱. 这种新方法有效地减少了文物和噪音,推进了X射线显微镜技术.