评估过渡边缘传感器 (TES) 探测器的Ti/Au支架上的老化效应
Maria Gambelli1, Matteo D'Andrea2, Rita Asquini3
1Institute for Photonics and Nanotechnologies, National Research Council of Italy (CNR), Via del Fosso del Cavaliere 100, 00133 Rome, Italy.
Sensors (Basel, Switzerland)
|June 27, 2024
概括
我们开发了新的/金超导传感器,用于粒子检测. 我们的研究解决了传感器的老化问题,确保了未来冷抗碰撞装置的稳定性能.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 低温工程 低温工程是什么?
- 探测器物理学的物理
背景情况:
- 过渡端传感器 (TES) 微热量计是先进的冷探测器.
- 这些探测器使用超导膜来检测敏感粒子或光子.
- 正在建立一个新的生产线,用于TES探测器作为低温抗碰撞 (否决) 装置.
研究的目的:
- 为新生产线开发稳定的TES探测器.
- 为了研究和减轻Ti/Au双层传感器的老化影响.
- 通过时间来描述传感器性能,并验证制造工艺.
主要方法:
- 使用电子束蒸发在基板上制造Ti/Au双层薄膜.
- 微型制造有图案和无图案的传感器几何形状,厚度不同.
- 随着时间的推移,重复测量电阻-温度 (R-T),以评估传感器的稳定性和降解.
主要成果:
- 收集不同Ti/Au双层样本的初始RT测量数据.
- 由于老化影响导致传感器性能下降的特征.
- 评价一个回火程序作为潜在的补救措施的传感器老化.
结论:
- 该研究为一条新的TES检测器生产线提供了基础数据.
- 研究了老化对Ti/Au传感器的影响,并测试了潜在的缓解策略.
- 这项工作有助于开发可靠的冷探测器,用于科学应用.


