使 - -

Ida Häggström1,2, Lukas M Carter2, Thomas J Fuchs3

  • 1Dept. of Radiology, Memorial Sloan Kettering Cancer Center, New York, USA.

Journal of instrumentation : an IOP and SISSA journal
|June 28, 2024
PubMed
概括

这项研究表明,深度学习可以分析分散的X射线,以揭示二维图像中的物质深度. 该技术使用康普顿散射,以前被认为是噪声,以改善放射成像和材料识别.