在II类空洞中的深边缘升高:使用共聚焦激光显微镜和扫描电子显微镜对微漏和接口完整性的比较评估

科学领域:

• 恢复性牙科 恢复性牙科
• 生物材料科学 生物材料科学

背景情况:

• 深度边缘升高对于修复带有下边缘的II类腔至关重要.
• 评估深度边缘升高的基础材料对于恢复寿命至关重要.
• 微漏洞和接口完整性是恢复成功的关键指标.

研究的目的:

• 为了比较牙座和基材之间的微漏.
• 评估基材和覆盖复合材料之间的接口完整性.
• 通过使用不同的基材,评估二类空洞中的深边缘升高.

主要方法:

• 在30个牙中准备了带有下边缘的II类腔.
• 对于深层边缘升高,使用了三个组:可流动复合材料,玻璃离子体水泥 (GIC) 和含纳米酸的GIC (GIC n-HAp).
• 修复部分经过热循环处理,分别使用共聚焦激光显微镜和扫描电子显微镜评估微漏和接口完整性.

主要成果:

• 与可流动复合材料和GIC相比,GIC n-HAp在牙座椅底部材料接口的微泄漏明显较低.
• 与GIC n-HAp相比,可流动复合材料和GIC与覆盖的散装复合材料表现出更高的接口完整性.
• 在GIC中添加纳米酸,提高了其在牙基材料接口上的密封能力.

结论:

• 将纳米氧酸盐纳入GIC有效地减少了深边缘高度的微泄漏.
• GIC n-HAp与覆盖的复合材料之间的接口完整性需要进一步的研究和潜在的改进.
• 对于深度边缘升高的材料选择,应考虑微漏和接口完整性,以获得最佳的临床结果.