DEKR-SPrior:一个高效的自下而上的关键点检测模型,用于精确的豆表型化

Jingjing He1, Lin Weng1, Xiaogang Xu2

  • 1Zhejiang Laboratory, Hangzhou 311100, Zhejiang, China.

概括

精确计算大豆豆和种子是具有挑战性的,因为密集的包装. 一个新的深度学习模型,DEKR-SPrior,通过使用结构前模块和子图像分析来提高现场表型准确性.