AFM2D

Jaehun Lim1, Donghyeon Moon1, Sunghyun Kim2,3

  • 1Department of Photonics and Nanoelectronics, Hanyang University (ERICA), Ansan 15588, Republic of Korea.

Nanotechnology
|July 10, 2024
PubMed
概括

较大的切断半径 (3.5σ) 对于使用列纳德-斯电位进行精确的纳米摩擦计算至关重要. 这种改进的精度对于理解二维材料和尖端表面相互作用中的能量障碍至关重要.