脉冲激光漂白半导体和光电探测器
Chen Huang1,2, Fei Chen1, Ze Zhang3
1Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China.
Sensors (Basel, Switzerland)
|July 13, 2024
概括
脉冲激光器会导致半导体和光电探测器的短暂漂白,影响其性能. 本研究提出了理论模型,并计算了连续漂白的参数,这对于红外探测和生物成像等应用至关重要.
科学领域:
- 光电学是指光电子产品.
- 半导体物理 半导体物理
- 激光与材料的相互作用
背景情况:
- 脉冲激光引发半导体和光探测器中的短暂光学性能变化 (漂白).
- 这种漂白在各种应用中显著影响光电探测器的性能和控制.
- 了解超快运载体动态至关重要,但理论研究有限.
研究的目的:
- 在脉冲激光照射下建立半导体和光探测器中载体动态的理论模型.
- 为了研究和演示脉冲激光漂白效应在一系列的半导体材料和光电探测器.
- 开发一种连续漂白方法,并为实际应用计算最佳激光参数.
主要方法:
- 使用修正的载体漂移-扩散模型开发载体动态模型.
- 在七种类型的半导体设备上进行脉冲激光漂白的实验演示.
- 应用有限差异时间域 (FDTD) 方法来解决理论模型.
- 计算持续漂白的激光参数.
主要成果:
- 该研究成功地证明了脉冲激光漂白对各种半导体和光电探测器类型的影响.
- 提出并验证了一种新的连续漂白方法.
- 计算了半导体设备连续漂白的最佳激光参数.
结论:
- 开发的理论模型准确地描述了载体动力学和激光诱导的漂白.
- 计算的激光参数允许控制的连续漂白,以提高设备的性能.
- 这项工作为优化红外探测,生物成像和传感方面的半导体设备提供了必要的见解和工具.
