Characteristics of MOSFET
MOSFET: Depletion Mode
MOSFET: Enhancement Mode
Schottky Barrier Diode
Biasing of P-N Junction
Diode: Reverse bias
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Zehui Peng1, Huangbai Liu1, Hao Yu1
1School of Electronic and Computer Engineering, Peking University Shenzhen 518055 China kcchang@pkusz.edu.cn.
这项研究引入了一种新的排水环绕双门 (DSDG) AlGaN/GaN高电子流动性晶体管 (HEMT) 来克服电流崩. DSDG-HEMT结构显著提高了先进功率电子的故障电压.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: