平均差分连续脉冲方法用于精确的光学测量发光二极管和激光二极管

科学领域:

• 光电学是指光电子产品.
• 摄影测量是一种摄影仪.
• 紫外线辐射的应用

背景情况:

• 杀菌紫外线 (GUV) 辐射应用受到测量挑战的限制.
• 紫外线发光二极管 (UV-LED) 是一个有希望的,高效的GUV源.
• 现有的LED光学测量方法需要提高精度.

研究的目的:

• 为LED和激光二极管引入和验证一种新的光学测量技术.
• 为了提高精度和减少光学测量的测量不确定性,特别是UV-LED.
• 解决现有的基于脉冲的测量方法中的系统错误来源.

主要方法:

• 开发用于光学测量的平均差异连续脉冲 (M-DCP) 方法.
• 将M-DCP方法与差异连续脉冲 (DCP) 方法和连续脉冲 (CP) 方法进行比较.
• 分析和减轻脉冲测量技术中固有的系统错误.
• 使用常用的测试仪器和LED测量方法验证M-DCP方法.

主要成果:

• 与DCP方法相比,M-DCP方法在测量不确定性方面取得了一级的改进.
• 通过M-DCP方法,可以对UV-LED进行高度精确的光学测量.
• 使用M-DCP方法观察到系统错误的减少.
• 验证测量证实了M-DCP方法的可靠性.

结论:

• M-DCP方法代表了LED,特别是UV-LED光学测量的重大进步.
• 这种技术提高了GUV源表征的可靠性和准确性.
• M-DCP方法为涉及UV-LED的研究和工业应用提供了更精确的工具.