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Updated: Jun 23, 2026

Laser-induced Forward Transfer for Flip-chip Packaging of Single Dies
Published on: March 20, 2015
空对片发光二极管机械和热性能的影响:基于有限元建模的统计分析
Seo Yeon Jo1, Gyu-Jang Sim1, Eun Jeong Park2
1Seoul National University & RIAM, 1 Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul, 08826, Republic of Korea.
翻转芯片发光二极管 (LED) 组件中的隙显著影响机械和热性能. 本研究验证了一个有限元模型 (FEM) 来预测这些效应,帮助可靠性评估.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 机械工程 机械工程
- 电气工程 电气工程
背景情况:
- 翻转芯片发光二极管 (LED) 对于汽车照明至关重要.
- 在回流过程中形成的接空隙会损害LED组件的完整性和可靠性.
- 了解空隙对机械和热性能的影响对于准确的可靠性评估至关重要.
研究的目的:
- 为了研究空隙对LED组件的剪切性能和导热率的影响.
- 开发和验证用于预测空隙影响的计算模型.
- 在可靠性评估中制定分析合组件断层扫描的指导方针.
主要方法:
- 使用有限元模型 (FEM) 模拟空隙的计算建模.
- 对FEM预测的实验验证.
- 统计分析接空隙分数,位置和大小.
主要成果:
- FEM准确地预测了最大切割应力和LED结点温度,与实验数据相对应得很好.
- 该研究量化了空隙对剪切性能和热导电性的影响.
- 虚空特征与它们对组件性能的影响之间的确立关系.
结论:
- 经过验证的FEM是分析LED组件空效应的可靠工具.
- 控制接空隙分数和了解它们的分布对于提高产品可靠性至关重要.
- 这些发现为接电子组件的可靠性评估提供了客观的指导方针.
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