X线

Manuel Sanchez Del Rio1, Rafael Celestre1, Juan Reyes-Herrera1

  • 1European Synchrotron Radiation Facility, 71 Avenue des Martyrs, 38000 Grenoble, France.

概括

研究人员开发了一种新方法,仅使用强度图像来测量X射线镜头偏差. 神经网络准确地预测镜头表面的误差,使光学系统能够进行常规的偏差测量.