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Guangyuan Deng1,2, Hongcheng Wang1
1School of Electrical Engineering and Intelligentization, Dongguan University of Technology, Dongguan 523808, China.
本研究介绍了一种轻量级的神经网络,用于在半导体制造中高效地识别混合型晶圆缺陷. 该模型实现了高精度和速度,改善了芯片生产过程.
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主要成果:
结论: