,使UV

Mona Knoblich1,2, Mohammad Al Ktash1,2, Frank Wackenhut1

  • 1Center of Process Analysis and Technology (PA&T), School of Life Sciences, Reutlingen University, Alteburgstraße 150, 72762 Reutlingen, Germany.

PubMed
概括

紫外线高光谱成像可以快速评估用于电气设备制造的直接结合铜的清洁度. 这种非破坏性的方法准确地预测了表面污染水平,优化了生产质量控制.