在光子或质子辐射后,正常出现的白质结构的扩散减少表明区域辐射敏感性的差异
Katharina Witzmann1, Felix Raschke1, Tim Wesemann2
1Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Institute of Radiooncology - OncoRay, Dresden, Germany; OncoRay - National Center for Radiation Research in Oncology, Faculty of Medicine and University Hospital Carl Gustav Carus, Technische Universität Dresden, Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Dresden, Germany.
概括
放射治疗导致大脑白质微观结构的变化,可通过扩散张力成像 (DTI) 检测到. 这些扩散张力成像 (DTI) 对正常白质 (WM) 的变化取决于辐射剂量和治疗后的时间.
科学领域:
- 神经成像是一种神经成像.
- 辐射瘤学 辐射瘤学
- 医学物理 医学物理
背景情况:
- 放射化疗 (RCT) 是质瘤患者的标准治疗方法.
- 无线电脑试验使周围看起来正常 (NA) 的脑组织暴露在辐射中.
- 磁共振成像 (MRI) 与扩散张力成像 (DTI) 可以评估放射治疗对大脑微观结构的影响.
研究的目的:
- 为了分析放射治疗后白质 (WM) 结构的区域DTI变化.
- 为了确定这些DTI变化的剂量和时间依赖性.
主要方法:
- 长度前性研究 (NCT02824731) 涉及23名用质子或光子束疗法治疗的质瘤患者.
- 在辐射后3个月间隔到36个月获得的MRI数据.
- 在15个WM结构中使用多变量线性回归分析平均,辐射和轴向扩散率 (MD,RD,AD) 和分数异构性 (FA).
主要成果:
- 在RCT后,在四个WM结构 (内部囊,冠状辐射,后部乳头辐射,上部纵向囊) 中观察到显著下降的RD和MD.
- 后部乳头辐射显示出最明显的变化 (ΔRD = -8.51%, ΔMD = -6.14%).
- DTI变化显著依赖于平均辐射剂量和随访时间.
结论:
- 即使在低辐射剂量下,也检测到WM亚结构的显著DTI变化.
- 调查结果表明,可能存在新的辐射剂量限制,以避免易受伤害的WM结构.
- 这可能有助于减轻质瘤患者治疗相关的副作用.
