开发一个X射线电离束位置监测器用于PAL-XFEL软X射线
Seonghan Kim1, SunMin Hwang1, Hoyoung Jang1
1Pohang Accelerator Laboratory, POSTECH, Pohang, Gyeongbuk 37673, Republic of Korea.
Journal of synchrotron radiation
|July 29, 2024
概括
一个新的X射线电离束位置监测器 (XIBPM) 为波加速器实验室的X射线自由电子激光器 (PAL-XFEL) 开发. 这种非侵入性诊断工具准确地追踪软X射线束的位置,这对于使用波动X射线脉冲的实验至关重要.
科学领域:
- 粒子加速器和光束物理学
- X射线科学与技术X射线科学与技术
- 光子诊断的使用方法
背景情况:
- 像PAL-XFEL这样的X射线自由电子激光器 (XFEL) 通过自我放大自发发射 (SASE) 产生强烈的超短X射线脉冲.
- SASE过程导致显著的脉冲到脉冲波动,需要精确的在线诊断来进行可靠的科学测量.
- 目前软X射线光束线诊断主要使用气体监测探测器来测量强度,对光束位置跟踪的选择有限.
研究的目的:
- 开发和描述一种用于监测PAL-XFEL软X射线束位置的新型非侵入性诊断工具.
- 通过启用光束位置跟踪来解决现有的以强度为中心的诊断的局限性.
- 为了验证开发的X射线电离束位置监测器 (XIBPM) 对于平均和单次测量的性能.
主要方法:
- 开发一个X射线电离束位置监测器 (XIBPM),利用残留或注射的气的光电离.
- 在XIBPM中集成一个带有的微通道板,用于信号检测.
- 在PAL-XFEL软X射线光束线上对XIBPM进行实验性表征,测试其用于水平和垂直光束位置监测的能力.
主要成果:
- XIBPM成功地展示了监控横向和垂直光束位置的能力.
- 该设备证实了在平均测量中跟踪光束位置的相对变化的可行性.
- XIBPM在跟踪光束位置变化到单次测量水平方面证明是有效的.
结论:
- 新开发的X射线电离束位置监测器 (XIBPM) 是软X射线束线的可行和有效的非侵入性诊断工具.
- XIBPM提供关键的光束位置信息,补充了PAL-XFEL等设施的现有强度监测器.
- 这一进步支持在X射线自由电子激光设施中进行更严格,更准确的科学实验.


