Fang Liu1, Ming Li2, Qianshun Diao2

  • 1University of Chinese Academy of Sciences, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, People's Republic of China.

概括

一种新的双边扫描 (DES) 技术可以对先进的同步射线辐射源进行精确的绝对晶体衍射波面测量. 这种方法确保了波面的保护,这对于在下一代光学中实现衍射有限性能至关重要.