X-ray Diffraction of Biological Samples
X-ray Crystallography
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
James P Cline1, Marcus H Mendenhall1, Joseph J Ritter1,2
1National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA.
一个新的国家标准与技术研究所 (NIST) 标准参考材料 (SRM) 为氧化粉末提供了经过认证的晶石尺寸. 这种材料有助于分析粉末衍射线形状的扩展,以准确地表征纳米材料.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: