破碎废弃物印刷电路板的先进颗粒度测量表征用于采样
Alexis Barthet1, Hervé Chauris1, Thomas Romary1
1Mines Paris, PSL University, Centre for Geosciences and Geoengineering, 77300 Fontainebleau, France.
Waste management (New York, N.Y.)
|July 31, 2024
概括
对废弃电子和电气设备 (WEEE) 进行表征对于回收至关重要. 这项研究分析了超过5000个WEEE碎片,揭示了物理性质和明显的质量大小定律之间的独特相关性,有助于采样理论的适应.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 环境科学 环境科学
- 回收技术的回收技术
背景情况:
- 废弃电子和电气设备 (WEEE) 的表征对于估值,回收优化和安全评估至关重要.
- 由于难以量化估计不确定性的困难,精确的EEE采样具有挑战性.
- 现有的采样理论,如Pierre Gy的,需要对碎片属性的详细理解,而这在WEEE中是缺乏的.
研究的目的:
- 解决了解WEEE碎片物理和化学特性方面的差距.
- 建立尺寸,形状,体积,密度,质量和EEE废物的等级之间的相关性.
- 为适应已建立的采样理论以适应WEEE奠定基础.
主要方法:
- 来自两批碎废印刷电路板的5000多个个体碎片的精细表征 (约. 10 毫米). 这是一个很大的问题.
- 每个碎片的质量,密度,体积,厚度,表面积,宽度和长度的单独测量.
- 根据视觉外观,对碎片进行启发式分类,将其分为塑料,金属,电路板和电子元件.
主要成果:
- 创建一个新的电子设备废弃物碎片颗粒度数据库.
- 确定测量物理参数 (质量,尺寸,密度等) 之间的独特相关性. ) 的情况.
- 对分析的WEEE碎片特有的特殊质量大小定律的观察.
结论:
- 详细的描述为了解WEEE碎片属性提供了关键数据.
- 确定的相关性和质量大小定律为WEEE采样提供了新的见解.
- 这项研究为适应和改进WEEE的采样模型开辟了新的途径,提高了回收过程.
