后方方法用于纠正格子光板结构化照明显微镜中的焦平面偏移
Yu Shi1, Tim A Daugird2, Wesley R Legant1,2
1University of North Carolina at Chapel Hill and North Carolina State University, Joint Department of Biomedical Engineering, Chapel Hill, North Carolina, United States.
Journal of biomedical optics
|August 1, 2024
概括
我们开发了一种新的方法来纠正晶格光片显微镜 (latticeSIM) 中的图像文物. 这项技术修复了轴偏移,改善了超分辨率显微镜数据的图像质量.
科学领域:
- 显微镜和成像技术技术.
- 生物物理学的生物物理.
- 光学工程是指光学工程.
背景情况:
- 格子光板结构照明显微镜 (latticeSIM) 提供快速,超高分辨率的3D成像,减少光漂白.
- 格子SIM中的样本诱导的偏差可以导致激发和检测平面之间的轴偏移,从而导致图像工件.
研究的目的:
- 引入一个采购后的方法来检测和纠正 latticeSIM.中的轴偏移.
- 为了最大限度地减少图像重建的文物,由网格SIM.alignment错位造成的.
主要方法:
- 利用了结构化照明显微镜的频域组件的剩余相位信息.
- 通过分析移动信息组件的重叠区域来检索轴偏移.
主要成果:
- 在各种样本 (珠子,细胞) 上使用模拟和实验验证技术.
- 证明了应用正确的传输函数可以最大限度地减少文物和挽救数据.
- 成功地纠正了激发和检测焦点平面之间的轴偏移.
结论:
- 开发的方法有效地恢复了格子SIM数据集中的图像质量.
- 这种技术对于纠正文物非常有价值,尤其是在非理想的实验条件下.
- 增强了格子SIM的实用性,用于高质量的超高分辨率成像.


