概括
这项研究引入了一种用于光学波导特征的新型散射光成像技术. 该方法具有很高的可重现性和准确性,可用于集成光子学的精确损失测量.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 综合光子学 综合光子学
背景情况:
- 在波导中描述光学传播对于集成光子设备至关重要.
- 传统的方法,如削减测量可以是破坏性的和耗时的.
- 开发非破坏性,准确和可重复的损失测量技术是必不可少的.
研究的目的:
- 提出和验证一种使用散射光成像在波导中进行光学传播表征的替代方法.
- 为了证明该技术在广泛的光谱范围 (450-980 nm) 中的适用性.
- 评估该方法的可重复性,并将其与已知的技术进行比较.
主要方法:
- 利用分散光成像来分析波导结构内的光传播.
- 使用可调节激光来测量AlGaAs在绝缘体上的波导.
- 将结果与传统的削减测量进行比较,以验证.
- 引入一个开源工具箱用于数据处理和损失估计.
主要成果:
- 在螺旋波导中实现了低传播损失,低至1.40dB/cm.
- 在AlGaAs波导上证明了高可重现性,一西格玛不确定性为1.40dB/cm (TE) 和2.23dB/cm (TM).
- 验证了分散光成像技术与切断测量.
结论:
- 分散光成像为波导中光学传播损失的特征提供了可靠和可重复的替代方案.
- 开发的开源工具箱促进了准确的损失估计,使综合光子学社区受益.
- 这种技术为优化波导设计和性能提供了宝贵的见解.
