使用短脉冲可见和紫外线激光器升级的单视线时间分辨率X射线成像仪的特征
M J Michalko1, K Churnetski1, J Katz1
1Laboratory for Laser Energetics, University of Rochester, Rochester, New York 14623-1299, USA.
The Review of scientific instruments
|August 2, 2024
概括
升级的单视线时间分辨率X射线成像仪 (SLOS-TRXI) 现在可以捕捉8,时间分辨率为34ps. 这一进步通过改进X射线自发射成像来增强惯性封闭融合诊断.
科学领域:
- 等离子体物理学的物理学
- 核聚变能源的使用方式
- 射线成像X射线成像X射线成像
背景情况:
- 惯性封闭融合 (ICF) 实验需要高时间和空间分辨率的诊断.
- 单一视线时间分辨率X射线成像仪 (SLOS-TRXI) 对于在ICF中捕获X射线自发射至关重要.
- 之前的SLOS-TRXI版本使用了一个四混合互补金属氧化物半导体 (hCMOS) 传感器.
研究的目的:
- 升级和描述SLOS-TRXI诊断器,以进行增强的ICF实验.
- 将现有的hCMOS传感器替换成一个新的八传感器.
- 评估升级对时间和空间分辨率的影响.
主要方法:
- 升级了SLOS-TRXI,配备了一个八hCMOS传感器.
- 使用短脉冲可见 (2ω) 和紫外线 (4ω) 激光器进行传感器和诊断门的特征.
- 采用阶梯梯级来产生一列UV激光脉冲,其间脉冲分离精确 (30±3 psi).
主要成果:
- 升级后的SLOS-TRXI实现了平均时间分辨率为34 ± 4 ps.
- 鉴定证实了hCMOS门,平均FWHM为2.28 ± 0.02 ns.
- 电子膨胀成像仪的推断时间放大范围从40到60不等.
- 空间分辨率没有受到升级的影响.
结论:
- 升级后的SLOS-TRXI显示了ICF x射线自我发射的显著改善的时间分辨率.
- 新的八hCMOS传感器增强了多成像能力.
- 诊断器保持其空间分辨率,为核聚变研究提供全面的数据.
