:,

Guangze Wu1,2, Yuanjian Wan1,2, Zhao Wang3,4

  • 1Wuhan National Laboratory for Optoelectronics and School of Optical and Electronic Information, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, 430074, China.

PubMed
概括

无接触集成光子探头 (CLIPPs) 为复杂光子集成电路中的芯片内光功率监测提供了一个非侵入性的解决方案. 这项技术可以检测电导率的变化,从而实现精确的信号控制,而无需显著的光学损失.