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Updated: Jun 17, 2025

High-Throughput Analysis of Optical Mapping Data Using ElectroMap
Published on: June 4, 2019
Santhosh Iyyakkunnel1,2, Matthias Weigel3,4,5,6, Oliver Bieri3,4
1Division of Radiological Physics, Department of Radiology , University Hospital Basel, Basel, Switzerland. santhosh.iyyakkunnel@unibas.ch.
一种新的双角度刺激回声 (DA-STE) 方法使得快速而准确的电特性断层扫描 (EPT) 能够使用同时复杂的大小和面相位测量. 这种技术提高了定量导电性值,可能使EPT具有临床意义.
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主要成果:
结论: