Fuhang Jiao1, Chaonan Lin1,2, Lin Dong1

  • 1Henan Key Laboratory of Diamond Optoelectronic Materials and Devices, Key Laboratory of Materials Physics, Ministry of Education, School of Physics, Zhengzhou University, Zhengzhou 450052, China.

概括

这项研究引入了一种新的可追溯物理非克隆功能 (PUF) 系统,使用空位 (GeV) 钻石来提高安全性. 这种创新方法为各种商品提供了强大的反假冒解决方案.