基于圆束计算机断层扫描分析的儿童受影响的超数值牙相关根吸收的风险预测模型:一个病例对照研究
Yakang Li1, Yuanmin Zhang2, Linpei Gao1
1Department of Periodontics, School of Stomatology, Capital Medical University, Tian Tan Xi Li No.4, Beijing, 100050, China.
BMC oral health
|August 9, 2024
概括
受冲击的超数牙可以导致根的再吸收. 关键的风险因素包括牙位置,根部发育和患者年龄,允许早期检测和预测这种牙科问题.
科学领域:
- 牙科 牙科是指牙科的专业.
- 在口腔外科手术.
- 放射学 放射学是一门学科.
背景情况:
- 外表面再吸收是受冲击牙压力的常见后果.
- 受影响的超数牙关联根吸收 (ISTARR) 受超数牙和患者因素的影响.
- 了解这些风险因素对于预测ISTARR发病率至关重要.
研究的目的:
- 调查与受影响的超数组牙相关根吸收 (ISTARR) 相关的风险因素.
- 为了预测受冲击的超数位牙引起的根吸收的发生率.
主要方法:
- 一项回顾性研究分析了324名超数位牙受损的患者.
- 使用了圆束计算机断层扫描 (CBCT) 数据和患者信息.
- 二元逻辑回归分析了有和没有根吸收的患者的七个变量.
主要成果:
- 年龄,冠状的方向,根的形成和牙是ISTARR的重要风险因素.
- 具体预测因素包括牙周 (OR=2.926),中冠位置 (OR=1.446),中三根位置 (OR=1.614),完整的根发育 (OR=1.334) 和患者年龄 (OR=1.261).
结论:
- 根部再吸收的危险因素可以根据数牙特征和患者年龄早期检测和预测.
- 建议对更大的样本大小进行进一步的前性研究进行验证.
