Optics letters
|August 15, 2024
PubMed
概括

洞圈回落 (CRD) 精确地测量来自高反射光学的光学散射. 这种新方法通过捕捉光线并最大限度地减少背景噪声来提高灵敏度和准确性,以便更好地分析光学元件.