设计和数值分析高对比率和超紧的全光学2位可逆比较器
Ehsan Veisi1, Mahmood Seifouri1, Saeed Olyaee2
1Faculty of Electrical Engineering, Shahid Rajaee Teacher Training University, Tehran, Iran.
Heliyon
|August 21, 2024
概括
这项研究为全光学2位可逆比较器提供了一个新的纳米结构. 该设计实现了高性能,具有超紧的尺寸和集成光学电路的优异对比率.
科学领域:
- 光子学 是一个光子学.
- 纳米技术纳米技术
- 光学计算是指光学计算的应用.
背景情况:
- 全光计算为高速数据处理提供了潜力.
- 可逆逻辑门对于减少计算中的能源消耗至关重要.
- 现有设计通常面临尺寸,速度或性能方面的限制.
研究的目的:
- 为全光学2位可逆比较器设计和模拟一种基于干扰的新型纳米结构.
- 为了实现超紧的足迹与高性能指标.
- 探索在集成光学电路中的应用潜力.
主要方法:
- 利用平面波扩展 (PWE) 进行编码器分析和频率模式.
- 使用有限差异时间域 (FDTD) 进行模拟和数值分析.
- 使用光子晶体纳米共振器设计.
主要成果:
- 实现了129.8微米2.8的超紧纳米结构足迹.
- 显示出一个很好的对比率13.8dB.
- 实现了3.33 Tb/s的高比特率和300 fs的低延迟时间.
结论:
- 拟议的纳米结构适用于高性能全光学2位可逆比较器.
- 该设计推用于第三个电信窗口 (1.55μm).
- 潜在的应用包括集成光学电路 (IOC).


