使:

Jun Hee Han1

  • 1School of Electrical Engineering, the Korea Advanced Institute of Science and Technology, Yuseong-gu, Daejeon 34141, Republic of Korea. jjunihan@kaist.ac.kr.

Nanoscale
|August 28, 2024
PubMed
概括

本研究引入了一种用于光学多层薄膜的新型反向设计方法. 它可以在没有机器学习的情况下高效地确定最佳层厚度,减少计算时间并提高准确性.