Overview of Microscopy Techniques
Atomic Force Microscopy
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Artem Odobesko1, Raffael L Klees2,3, Felix Friedrich1
1Physikalisches Institut, Experimentelle Physik II, Julius-Maximilians-Universität Würzburg, Am Hubland, 97074 Würzburg, Germany.
研究人员使用一种新型扫描道显微镜 (STM) 探测器对尤希巴-鲁西诺夫 (YSR) 边界状态进行了成像. 这项技术揭示了超导体中的原子级干扰模式,此前无法解决.
科学领域:
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主要成果:
结论: