在40-140 MHz频率下对二氧化晶体剪切声波衰减的评估
Zhiyuan Mi1, Huijie Zhao1,2,3, Qi Guo1,2
1School of Instrumentation Science & Opto-Electronics Engineering, Beihang University, No. 37 Xueyuan Road, Haidian District, Beijing 100191, China.
Materials (Basel, Switzerland)
|August 29, 2024
概括
这项研究研究了二氧化 (TeO2) 晶体中的声波衰减. 一种新方法测量了非对线声光学调节过器 (AOTF) 中的声功率分布,解决了来自晶体异构的错误.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 声学 声学 在声学方面
- 光学是什么?光学是什么?光学是什么?
背景情况:
- 二氧化物 (TeO2) 晶体表现出强烈的声学异质性.
- 这种异构性导致非均的声功率分布.
- 不统一性可能导致声光学 (AO) 测试方法的错误.
研究的目的:
- 提出一种一般方法来测量非对线声光学调节过器 (AOTF) 中的声功率分布.
- 为了分析在AO测试方法中由于TeO2.2中的声学异性质引起的错误.
- 在TeO2.2中确定声衰减系数.
主要方法:
- 在TeO2.2的 (110) 平面中研究了缓慢剪切声波衰减.
- 开发了一种方法来测量在AOTF中沿声波传播的声力分布.
- 在距离 [110] 轴的6.5°截止角度进行测量,用于40至140 MHz的超声波频率.
主要成果:
- 证实了由于TeO2的声学异质性而导致的非均的声学功率分布.
- 在AO测试中,由于这种非统一性而引入的量化错误.
- 确定衰减系数,显示对超声波频率的二次依赖.
结论:
- 拟议的方法准确地测量了AOTF中的声功率分布.
- 了解声学异质性对于使用TeO2.2进行精确的AO测试至关重要.
- 减弱的二次频率依赖性被证实为TeO2.2中的慢剪波.
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