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Shuang Wang1,2, Xie Han1, Kewu Li2,3

  • 1School of Data Science and Technology, North University of China, Taiyuan 030051, China.

Sensors (Basel, Switzerland)
|August 29, 2024
PubMed
概括

本研究介绍了一种快照多波长双折射成像方法. 它准确地同时测量双折阻抗和快轴角度,具有高可重复性.

关键词:
双断层测量测量方法 双断层测量方法多波长频道的频道.减速和快速轴的自行方向.快照成像即时截图成像

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科学领域:

  • 光学和光子学 在光学和光子学.
  • 材料科学 材料科学 材料科学
  • 极极度度测试是指极极度测试的方法.

背景情况:

  • 双折射成像对于分析异性质材料至关重要.
  • 现有的方法往往缺乏速度,多波长能力,或同时测量阻抗和角度.
  • 在材料科学和工程中,精确地描述应力诱导的双断是至关重要的.

研究的目的:

  • 开发一种新的快照多波长双折射成像方法.
  • 为了能够同时测量双折阻抗和快轴亚齐木斯角.
  • 为了在单次成像中实现高速,高精度和高可重复性测量.

主要方法:

  • 使用RGB-LED (463nm,533nm,629nm) 带有循环偏光和一个循环偏光器.
  • 采用彩色偏振摄像头,捕捉每个波长的四个偏振状态中的光强度.
  • 确定斯托克斯向量 (S0,S1,S2) 和校准的极化响应矩阵以进行准确的测量.

主要成果:

  • 同时确定双折阻抗和快速轴的亚齐木斯角.
  • 使用聚合物四分之一波板验证了准确性和可重复性.
  • 实现了比0.67nm更好的测量可重复性,用于阻抗和0.08°的亚齐木斯角.
  • 在施加力之前和之后,在PMMA样本中测量了压力诱导的双折射.

结论:

  • 拟议的方法为多波长双断率成像提供了一个强大的解决方案.
  • 在单一快照中展示了高速,高精度和高可重复性.
  • 该技术适用于分析动态应力变化和材料特性.