4DSTEM,

Carter Francis1, Paul M Voyles1

  • 1Department of Materials Science and Engineering, University of Wisconsin Madison, Madison, Wisconsin 53706, USA.

Ultramicroscopy
|September 14, 2024
PubMed
概括

这项研究引入了一种分析电子显微镜数据的新方法,使得从重叠结构中更清晰地识别衍射模式. 该技术增强了对晶体和无形材料的分析.